וובינר באנגלית: חיישנים סיב-אופטיים על-בסיס תהליכים של פיזור ברילואן מאולץ

סיבים אופטיים הינם תווך יוצא מהכלל עבור יישומי חישה. הם תומכים במדידות על-פני עשרות קילומטרים, ניתנים לשילוב פשוט במבנים ותשתיות, חסינים יחסית בפני הפרעות אלקטרו-מגנטיות, ומתאימים ליישום בסביבות בהן השימוש בחשמל אינו אפשרי. בפרט, סיבים אופטיים מאפשרים מדידה מפולגת של פרמטרים סביבתיים, כאשר כל מקטע סיב משמש כנקודת חישה עצמאית. תהליכים של פיזור ברילואן מאולץ משמשים למדידת טמפרטורה ומעוות מכאני לאורך סיבים אופטיים. הרוזולוציה המרחבית של המדידות מגיעה לסנטימטרים בודדים, ומספר נקודות המדידה עשוי להיות מעל למיליון. המדידות משמשות לניטור תשתיות קריטיות כגון צנורות נפט וגז, כבלי מתח גבוה, סכרים וגשרים, וכן בסקטור התעופה והרכב. בשנים האחרונות, חיישנים מבוססי פיזור ברילואן מאולץ על-גבי סיבים אופטיים הוכללו למדידות כימיקלים שונים מחוץ לגבולות הסיב. מדידות אלו מורכבות לביצוע, מאחר והאור המתקדם בסיב אינו בא במגע עם התווך הנבדק. למרות זאת, תכונות אופטיות ואלסטיות של נוזלים מחוץ לסיב ניתנות למדידה על-בסיס תהליכים אלו.

בהרצאה זו אציג את העקרונות הפיזיקליים בבסיס תהליכים של פיזור ברילואן מאולץ בסיבים אופטיים, בכוון אחורי ובכיוון קדמי, וכן פרוטוקולים שונים לחישה המבוססים על האפקט. יוצגו דוגמאות למדידות של טמפרטורה, מתיחה מכאנית, גיאומטריה ותכונות חומרים. בנוסף, אסקור את מעטפת הביצועים ואת הגורמים המגבילים בהיבטי טווח, רזולוציה מרחבית, דיוק, ומשך המדידה. לבסוף, ינתנו דוגמאות מסחריות

על המרצה:

פרופ’ אבי צדוק,